| 標準編號 | 標準名稱 | 發布部門 | 發布日期 | 狀態 | |
| GB/T 16595-2019 | 晶片通用網格規范 | 國家市場監督管理總局.. | 2019-11-28 | 現行 | |
| GB/T 16596-2019 | 確定晶片坐標系規范 | 國家市場監督管理總局.. | 2019-11-28 | 現行 | |
| GB/T 34479-2017 | 硅片字母數字標志規范 | 中華人民共和國國家質.. | 2018-07-01 | 現行 | |
| GB/T 32279-2015 | 硅片訂貨單格式輸入規范 | 中華人民共和國國家質.. | 2017-01-01 | 現行 | |
| YS/T 985-2014 | 硅拋光回收片 | 中華人民共和國工業和.. | 2015-04-01 | 現行 | |
| GB/T 14863-2013 | 用柵控和非柵控二極管的電壓電容關系測定硅外延層中凈載流子濃度的方法 | 中華人民共和國國家質.. | 2014-08-15 | 已廢止 | |
| GB/T 30453-2013 | 硅材料原生缺陷圖譜 | 中華人民共和國國家質.. | 2014-10-01 | 現行 | |
| GB/T 30110-2013 | 空間紅外探測器碲鎘汞外延材料參數測試方法 | 中華人民共和國國家質.. | 2014-05-15 | 現行 | |
| GB/T 29505-2013 | 硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法 | 中華人民共和國國家質.. | 2014-02-01 | 現行 | |
| GB/T 29057-2012 | 用區熔拉晶法和光譜分析法評價多晶硅棒的規程 | 中華人民共和國國家質.. | 2013-10-01 | 現行 | |
| YS/T 838-2012 | 碲化鎘 | 中華人民共和國工業和.. | 2013-03-01 | 現行 | |
| GB/T 14847-2010 | 重摻雜襯底上輕摻雜硅外延層厚度的紅外反射測量方法 | 中華人民共和國國家質.. | 2011-10-01 | 現行 | |
| GB/T 26065-2010 | 硅單晶拋光試驗片規范 | 中華人民共和國國家質.. | 2011-10-01 | 現行 | |
| GB/T 26066-2010 | 硅晶片上淺腐蝕坑檢測的測試方法 | 中華人民共和國國家質.. | 2011-10-01 | 現行 | |
| GB/T 26068-2010 | 硅片載流子復合壽命的無接觸微波反射光電導衰減測試方法 | 中華人民共和國國家質.. | 2019-11-28 | 已作廢 | |
| GB/T 26069-2010 | 硅退火片規范 | 中華人民共和國國家質.. | 2011-10-01 | 現行 | |
| GB/T 26071-2010 | 太陽能電池用硅單晶切割片 | 中華人民共和國國家質.. | 2019-11-28 | 已作廢 | |
| GB/T 25075-2010 | 太陽能電池用砷化鎵單晶 | 中華人民共和國國家質.. | 2011-04-01 | 現行 | |
| GB/T 25076-2010 | 太陽電池用硅單晶 | 中華人民共和國國家質.. | 2019-11-28 | 已作廢 | |
| GB/T 14264-2009 | 半導體材料術語 | 中華人民共和國國家質.. | 2010-06-01 | 現行 |
