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硅片字母數字標志規范
硅片字母數字標志規范 現行
Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
標準號：GB/T 34479-2017
基本信息
標準號：GB/T 34479-2017
發布時間：2017-10-14
實施時間：2018-07-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：張靜、孫燕、邊永智、樓春蘭
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半金屬與半導體材料綜合
ICS分類：半導體材料
提出單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會 (SAC/TC 203/SC 2)
起草單位：有研半導體材料有限公司、浙江省硅材料質量檢驗中心
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會 (SAC/TC 203/SC 2)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了硅片或其他半導體晶片上字母數字標志的編碼規范，包括標志的形狀和尺寸、字母數字代碼的定義、要求和字母數字錯碼檢驗方法等。該標志及關聯信息存入數據庫，可被簡單的自動光學字符讀數（OCR）儀或人工進行獨立、快速識別，確保晶片制造商對晶片標記的一致性。 本標準適用于在硅片及其他晶片正面或背面的編碼標志。
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