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硅片字母數(shù)字標志規(guī)范 現(xiàn)行

Specification for alphanumeric marking of silicon wafers

標準號：GB/T 34479-2017

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基本信息

標準號：GB/T 34479-2017
發(fā)布時間：2017-10-14
實施時間：2018-07-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：張靜、孫燕、邊永智、樓春蘭
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半金屬與半導體材料綜合
ICS分類：半導體材料
提出單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會 (SAC/TC 203/SC 2)
起草單位：有研半導體材料有限公司、浙江省硅材料質量檢驗中心
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全國半導體設備和材料標準化技術委員會材料分技術委員會 (SAC/TC 203/SC 2)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規(guī)定了硅片或其他半導體晶片上字母數(shù)字標志的編碼規(guī)范，包括標志的形狀和尺寸、字母數(shù)字代碼的定義、要求和字母數(shù)字錯碼檢驗方法等。該標志及關聯(lián)信息存入數(shù)據(jù)庫，可被簡單的自動光學字符讀數(shù)（OCR）儀或人工進行獨立、快速識別，確保晶片制造商對晶片標記的一致性。 本標準適用于在硅片及其他晶片正面或背面的編碼標志。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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