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標準編號 標準名稱 發布部門 發布日期 狀態
GB/T 32869-2016 納米技術 單壁碳納米管的掃描電子顯微術和能量色散X射線譜表征方法 中華人民共和國國家質.. 2017-03-01 現行
GB/T 30543-2014 納米技術 單壁碳納米管的透射電子顯微術表征方法 中華人民共和國國家質.. 2014-11-01 現行
JB/T 11144-2011 X射線衍射儀 中華人民共和國工業和.. 2012-04-01 現行
JB/T 11145-2011 X射線熒光光譜儀 中華人民共和國工業和.. 2012-04-01 現行
GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則 中華人民共和國國家質.. 2011-12-01 現行
JB/T 9400-2010 X射線衍射儀 技術條件 中華人民共和國工業和.. 2010-07-01 現行
GB/T 23414-2009 微束分析 掃描電子顯微術 術語 國家標準化管理委員會 2009-12-01 現行
GB/T 15247-2008 微束分析 電子探針顯微分析 測定鋼中碳含量的校正曲線法 中華人民共和國國家質.. 2009-04-01 現行
GB/T 20726-2006 半導體探測器X射線能譜儀通則 中華人民共和國國家質.. 2007-08-01 已作廢
JB/T 10573-2006 工具顯微鏡 2006-10-11 現行
GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則 中華人民共和國國家質.. 2007-02-01 現行
GB/T 20175-2006 表面化學分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質的優化方法 國家標準化管理委員會 2006-11-01 現行
GB/T 20176-2006 表面化學分析 二次離子質譜 用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度 國家標準化管理委員會 2006-11-01 現行
ZB N 33001-1988 平面光柵攝譜儀 2004-12-01 已作廢
JB/T 5482-2004 X射線晶體定向儀 技術條件 中華人民共和國國家發.. 2004-11-01 已作廢
GB/T 19500-2004 X-射線光電子能譜分析方法通則 中華人民共和國國家質.. 2004-12-01 現行
GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量 中華人民共和國國家質.. 2004-05-01 已廢止
GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法 中華人民共和國國家質.. 2003-05-01 已作廢
GB/T 15617-2002 硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法 中華人民共和國國家質.. 2003-06-01 現行
GB/T 15244-2002 玻璃的電子探針定量分析方法 中華人民共和國國家質.. 2003-06-01 已作廢
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