表面化學分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質的優化方法 現行
Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials
標準號：GB/T 20175-2006
基本信息
標準號：GB/T 20175-2006
發布時間：2006-03-27
實施時間：2006-11-01
首發日期：2006-03-27
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：查良鎮、陳旭、王光普、黃雁華、黃天斌、劉林、葛欣、桂東
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子光學與其他物理光學儀器
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：清華大學電子工程系
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準采用適當的單層和多層膜系參考物質，提供優化濺射深度剖析參數的指南。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
