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微束分析 掃描電子顯微術(shù) 術(shù)語(yǔ)

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 23414-2009
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 23414-2009
發(fā)布時(shí)間:2009-04-01
實(shí)施時(shí)間:2009-12-01
首發(fā)日期:2009-04-01
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:李香庭、曾毅
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi): 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
ICS分類(lèi):
01.040.37:37.020
提出單位:全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位:中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
歸口單位:全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén):國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門(mén):國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)定義了掃描電子顯微術(shù)(SEM)實(shí)踐中使用的術(shù)語(yǔ)。包括一般術(shù)語(yǔ)和按技術(shù)分類(lèi)的具體概念的術(shù)語(yǔ),也包括已經(jīng)在ISO23833中定義的術(shù)語(yǔ)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有有關(guān)SEM 實(shí)踐的標(biāo)準(zhǔn)化文件。另外,本標(biāo)準(zhǔn)的某些術(shù)語(yǔ)定義,也適用于相關(guān)領(lǐng)域的文件〔例如:電子探針顯微分析(EPMA)、分析電子顯微術(shù)(AEM)、能譜法(EDX)等〕。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO22493:2008《微束分析 掃描電子顯微術(shù) 術(shù)語(yǔ)》(英文版)。 為了便于使用,本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改: ---本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)一詞改為本標(biāo)準(zhǔn); ---刪除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言。 ---掃描電子顯微鏡簡(jiǎn)稱(chēng)掃描電鏡。 ---增加了中文索引。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:李香庭、曾毅。 |
標(biāo)準(zhǔn)目錄
前言Ⅰ 引言Ⅱ 1 范圍1 2 縮略語(yǔ)1 3 SEM 物理基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)1 4 SEM 儀器術(shù)語(yǔ)5 5 SEM 成像和圖像處理術(shù)語(yǔ)10 6 SEM 圖像詮釋和分析術(shù)語(yǔ)14 7 SEM 圖像放大倍率和分辨率校正及測(cè)量術(shù)語(yǔ)16 參考文獻(xiàn)18 中文索引19 英文索引22 |
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