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半導(dǎo)體探測器X射線能譜儀通則已作廢

Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 20726-2006

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 20726-2006

發(fā)布時間：2006-12-25

實施時間：2007-08-01

首發(fā)日期：2006-12-25

出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>

起草人：曾榮樹、徐文東、毛騫、馬玉光、范光

作廢日期：2016-09-01

出版機構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社

標(biāo)準(zhǔn)分類：電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器

ICS分類：有關(guān)化學(xué)分析方法的其他標(biāo)準(zhǔn)

提出單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

起草單位：中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了表征以半導(dǎo)體探測器、前置放大器和信號處理系統(tǒng)為基本構(gòu)成的X射線能譜儀特性最重要的量值。

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)公告

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采標(biāo)情況

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