納米技術 單壁碳納米管的掃描電子顯微術和能量色散X射線譜表征方法 現行
Nanotechnologies—Characterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis
標準號：GB/T 32869-2016
基本信息
標準號：GB/T 32869-2016
發布時間：2016-08-29
實施時間：2017-03-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：常懷秋、樸玲鈺、高潔
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子光學與其他物理光學儀器
ICS分類：光學和光學測量
提出單位：中國科學院
起草單位：國家納米科學中心
歸口單位：全國納米技術標準化技術委員會(SAC/TC 279)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國科學院
標準簡介
本標準規定了利用SEM和EDX分析單壁碳納米管粗產品及純化后粉末或薄膜產品的形態、元素組成、催化劑和其他無機雜質的測試方法。 本標準適用于單壁碳納米管的特性分析，亦可用于多壁碳納米管（multiwall carbon nanotubes，簡稱MWCNTs）的特性分析。
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