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X射線晶體定向儀 技術條件

The specification for X-ray Crystal Orientation apparatus
標準號:JB/T 5482-2004
基本信息
標準號:JB/T 5482-2004
發布時間:2004-06-17
實施時間:2004-11-01
首發日期:
出版單位:機械工業出版社查看詳情>
起草人:趙久、劉海燕、王永利、王大新、趙顯風等
作廢日期:2012-04-01
出版機構:機械工業出版社
標準分類: 電子光學與其他物理光學儀器
ICS分類:有關光學和光學測量的其他標準
提出單位:中國機械工業聯合會
起草單位:丹東市東方晶體儀器有限公司、遼寧儀表研究所等
歸口單位:全國試驗機標委會、遼寧儀表研究所
發布部門:中華人民共和國國家發展和改革委員會
標準簡介
本標準規定了用于單晶定向和測量用的X射線晶體定向儀的要求,試驗方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸、貯存。
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