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納米技術(shù) 單壁碳納米管的掃描電子顯微術(shù)和能量色散X射線譜表征方法 現(xiàn)行

Nanotechnologies—Characterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 32869-2016

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 32869-2016
發(fā)布時(shí)間：2016-08-29
實(shí)施時(shí)間：2017-03-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：常懷秋、樸玲鈺、高潔
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
ICS分類：光學(xué)和光學(xué)測(cè)量
提出單位：中國(guó)科學(xué)院
起草單位：國(guó)家納米科學(xué)中心
歸口單位：全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 279)
發(fā)布部門(mén)：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門(mén)：中國(guó)科學(xué)院

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用SEM和EDX分析單壁碳納米管粗產(chǎn)品及純化后粉末或薄膜產(chǎn)品的形態(tài)、元素組成、催化劑和其他無(wú)機(jī)雜質(zhì)的測(cè)試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于單壁碳納米管的特性分析，亦可用于多壁碳納米管（multiwall carbon nanotubes，簡(jiǎn)稱MWCNTs）的特性分析。

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