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[GB/T 32869-2016] 納米技術 單壁碳納米管的掃描電子顯微術和能量色散X射線譜表征方法[現行]
發布時間：2016-08-29
實施時間：2017-03-01
本標準規定了利用SEM和EDX分析單壁碳納米管粗產品及純化后粉末或薄膜產品的形態、元素組成、催化劑和..
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[GB/T 30543-2014] 納米技術 單壁碳納米管的透射電子顯微術表征方法[現行]
發布時間：2014-05-06
實施時間：2014-11-01
本標準規定了單壁碳納米管的透射電子顯微術表征形貌的方法,及識別單壁碳納米管樣品中其他材料元素組成的能..
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發布時間：2011-12-20
實施時間：2012-04-01
本標準規定了X射線衍射儀的術語和定義、產品分類、技術要求、檢驗規則、測試方法、標志、包裝運輸、貯存等..
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[JB/T 11145-2011] X射線熒光光譜儀[現行]
發布時間：2011-12-20
實施時間：2012-04-01
本標準規定了X射線熒光光譜儀的術語和定義、技術條件、檢驗規則、測試方法、標志、包裝、貯存、運輸等要求..
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[GB/T 26533-2011] 俄歇電子能譜分析方法通則[現行]
發布時間：2011-05-12
實施時間：2011-12-01
本標準規定了以電子束為激發源的俄歇電子能譜(AES,AugerElectronSpectroscop..
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[JB/T 9400-2010] X射線衍射儀 技術條件[現行]
發布時間：2010-02-11
實施時間：2010-07-01
本標準規定了多晶X射線衍射儀的技術要求、檢驗規則和試驗方法等。本標準適用于多晶X射線衍射儀。
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[GB/T 23414-2009] 微束分析 掃描電子顯微術 術語[現行]
發布時間：2009-04-01
實施時間：2009-12-01
本標準定義了掃描電子顯微術(SEM)實踐中使用的術語。包括一般術語和按技術分類的具體概念的術語,也包..
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[GB/T 15247-2008] 微束分析 電子探針顯微分析 測定鋼中碳含量的校正曲線法[現行]
發布時間：2008-08-20
實施時間：2009-04-01
本標準代替GB/T 15247-1994《碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針定量分析方法 靈敏度曲線法（檢..
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[GB/T 20726-2006] 半導體探測器X射線能譜儀通則[已作廢]
發布時間：2006-12-25
實施時間：2007-08-01
本標準規定了表征以半導體探測器、前置放大器和信號處理系統為基本構成的X射線能譜儀特性最重要的量值。
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發布時間：2006-07-27
實施時間：2006-10-11
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[GB/T 20307-2006] 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則[現行]
發布時間：2006-07-19
實施時間：2007-02-01
本標準規定了用掃描電鏡測量納米級長度的基本原則。適用于測量10nm-500nm的點或線的間距。
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[GB/T 20175-2006] 表面化學分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質的優化方法[現行]
發布時間：2006-03-27
實施時間：2006-11-01
本標準采用適當的單層和多層膜系參考物質，提供優化濺射深度剖析參數的指南。
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[GB/T 20176-2006] 表面化學分析 二次離子質譜 用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度[現行]
發布時間：2006-03-27
實施時間：2006-11-01
本標準詳細說明了用標定的均勻摻雜物質確定單晶硅中硼的原子濃度的二次離子質譜方法。
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[ZB N 33001-1988] 平面光柵攝譜儀[已作廢]
發布時間：2004-12-01
實施時間：2004-12-01
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[JB/T 5482-2004] X射線晶體定向儀 技術條件[已作廢]
發布時間：2004-06-17
實施時間：2004-11-01
本標準規定了用于單晶定向和測量用的X射線晶體定向儀的要求，試驗方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸、貯存..
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[GB/T 19500-2004] X-射線光電子能譜分析方法通則[現行]
發布時間：2004-04-30
實施時間：2004-12-01
本標準規定了X射線光電子能譜(XPS，X-rayPhotoelectronSpectroscopy或..
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[GB 7667-2003] 電子顯微鏡X射線泄漏劑量[已廢止]
發布時間：2003-10-10
實施時間：2004-05-01
本標準規定了電子顯微鏡X射線泄漏劑量、試驗方法及檢驗規則。本標準適用于透射、掃描、反射掃描和電子探針..
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[GB/T 18907-2002] 透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法[已作廢]
發布時間：2002-12-05
實施時間：2003-05-01
本標準規定了用透射電子顯微鏡對薄晶體試樣微米級區域進行選區電子衍射分析的方法。本標準適用于各種金屬與..
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[GB/T 15617-2002] 硅酸鹽礦物的電子探針定量分析方法[現行]
發布時間：2002-11-11
實施時間：2003-06-01
本標準規定了電子束下穩定的天然和人工合成硅酸礦物的電子探針或掃描電子顯微鏡中X射線波長色散光譜儀的定..
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[GB/T 15244-2002] 玻璃的電子探針定量分析方法[已作廢]
發布時間：2002-11-11
實施時間：2003-06-01
本標準規定了電子探針和掃描電子顯微鏡的X射線波譜儀、X射線能譜儀對玻璃的定量分析方法。本標準適用于玻..
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