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電子顯微鏡X射線泄漏劑量已廢止

The dose of X-rays leakage from electron microscope

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 7667-2003

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 7667-2003

發(fā)布時(shí)間：2003-10-10

實(shí)施時(shí)間：2004-05-01

首發(fā)日期：1987-04-20

出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>

起草人：上海電子光學(xué)技術(shù)研究所

作廢日期：2017-03-23

出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社

標(biāo)準(zhǔn)分類：電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器

ICS分類：光學(xué)設(shè)備

提出單位：中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)

起草單位：上海電子光學(xué)技術(shù)研究所

歸口單位：全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

主管部門：中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子顯微鏡X射線泄漏劑量、試驗(yàn)方法及檢驗(yàn)規(guī)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于透射、掃描、反射掃描和電子探針等不同類型的電鏡。

替代情況

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