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透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法 已作廢
Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes
標準號：GB/T 18907-2002
基本信息
標準號：GB/T 18907-2002
發布時間：2002-12-05
實施時間：2003-05-01
首發日期：2002-12-05
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：柳得櫓、劉安生
作廢日期：2014-03-01
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子光學與其他物理光學儀器
ICS分類：光學設備
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：北京科技大學材料物理與化學系、北京有色金屬研究院測試所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了用透射電子顯微鏡對薄晶體試樣微米級區域進行選區電子衍射分析的方法。本標準適用于各種金屬與非金屬晶體薄膜（包括粉末試樣與萃取復型試樣）的電子衍射分析?？煞治龅淖钚≡嚇訁^直徑為1 μm。應用電子衍射譜可以獲得試樣晶體對稱性、點陣常數和布拉菲格式類型等數據。利用已知晶體薄膜的電子衍射譜可以測定透射電子顯微鏡的衍射常數。被分析試樣區直徑小于1 μm時，可參照執行。
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