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標準編號 標準名稱 發布部門 發布日期 狀態
GB/T 8976-1996 膜集成電路和混合膜集成電路總規范 國家技術監督局 1997-01-01 現行
GB/T 15431-1995 微電路模塊總規范 國家技術監督局 1995-08-01 已作廢
GB/T 15876-1995 塑料四面引線扁平封裝引線框架規范 國家技術監督局 1996-08-01 已作廢
GB/T 15877-1995 蝕刻型雙列封裝引線框架規范 國家技術監督局 1996-08-01 已作廢
GB/T 15878-1995 小外形封裝引線框架規范 國家技術監督局 1996-08-01 已作廢
GB/T 15879-1995 半導體器件的機械標準化 第5部分:用于集成電路載帶自動焊(TAB)的推薦值 國家技術監督局 2019-11-28 已作廢
GB/T 15138-1994 膜集成電路和混合集成電路外形尺寸 國家技術監督局 1995-04-01 現行
GB/T 15297-1994 微電路模塊機械和氣候試驗方法 國家技術監督局 1995-07-01 已作廢
GB/T 14112-1993 半導體集成電路 塑料雙列封裝沖制型引線框架規范 國家技術監督局 1993-08-01 已作廢
GB/T 14113-1993 半導體集成電路封裝術語 國家技術監督局 1993-08-01 現行
GB/T 14862-1993 半導體集成電路封裝結到外殼熱阻測試方法 國家技術監督局 1994-10-01 現行
GB/T 14028-1992 半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 國家技術監督局 2018-11-21 廢止
GB/T 14029-1992 半導體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理 國家技術監督局 1993-08-01 現行
GB/T 14030-1992 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 國家技術監督局 1993-08-01 現行
GB/T 14031-1992 半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理 國家技術監督局 1993-08-01 現行
GB/T 14032-1992 半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理 國家技術監督局 1993-08-01 現行
QJ 2212-1991 半導體集成電路設計指南 2019-12-19 已作廢
GB/T 13062-1991 膜集成電路和混合膜集成電路空白詳細規范 (采用鑒定批準程序) 國家技術監督局 2019-11-28 已作廢
GB/T 12842-1991 膜集成電路和混和膜集成電路術語 國家技術監督局 1991-01-02 現行
GB/T 12843-1991 半導體集成電路 微處理器及外圍接口電路電參數測試方法的基本原理 國家技術監督局 1991-01-02 已作廢
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