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半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理

General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 14028-1992
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 14028-1992
發(fā)布時間:1992-01-02
實施時間:1993-08-01
首發(fā)日期:1992-12-17
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:
作廢日期:2018-08-01
出版機(jī)構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 微電路綜合
ICS分類:集成電路、微電子學(xué)
起草單位:上海件五廠
歸口單位:全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門:國家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了MOS和結(jié)型場效應(yīng)半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)電參數(shù)測試的基本原理。模擬開關(guān)與CMOS電路相同的靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)測試可參照GB3834《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》。
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