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半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理 現(xiàn)行

General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 14029-1992

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 14029-1992
發(fā)布時(shí)間：1992-01-02
實(shí)施時(shí)間：1993-08-01
首發(fā)日期：1992-12-17
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 微電路綜合
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：國家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路模擬乘法器測試方法的基本原理。乘法器與運(yùn)算放大器相同的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)測試，可參照GB3442《半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算(電壓)放大器測試方法的基本原理》。

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