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半導(dǎo)體集成電路 微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測試方法的基本原理 已作廢

General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits parameters for semiconductor integrated circuits

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 12843-1991

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 12843-1991
發(fā)布時間：1991-04-28
實施時間：1991-01-02
首發(fā)日期：1991-04-28
起草人：
作廢日期：2005-10-14
標(biāo)準(zhǔn)分類： 微電路綜合
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
起草單位：北京機械自動化所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：國家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于器件電參數(shù)的測試。

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