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半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理
半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理 廢止
General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
標準號：GB/T 14028-1992
基本信息
標準號：GB/T 14028-1992
發布時間：1992-01-02
實施時間：1993-08-01
首發日期：1992-12-17
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
作廢日期：2018-08-01
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 微電路綜合
ICS分類：集成電路、微電子學
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發布部門：國家技術監督局
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準規定了MOS和結型場效應半導體集成電路模擬開關電參數測試的基本原理。模擬開關與CMOS電路相同的靜態參數和動態參數測試可參照GB3834《半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》。
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