半導體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理 現(xiàn)行
General principles of measruing methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
標準號：GB/T 14031-1992
基本信息
標準號：GB/T 14031-1992
發(fā)布時間：1992-01-02
實施時間：1993-08-01
首發(fā)日期：1992-12-17
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 微電路綜合
ICS分類：集成電路、微電子學
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發(fā)布部門：國家技術監(jiān)督局
主管部門：工業(yè)和信息化部（電子）
標準簡介
本標準規(guī)定了半導體集成電路模擬鎖相環(huán)電參數(shù)測試方法的基本原理。模擬鎖相環(huán)與數(shù)字電路相同的靜態(tài)和動態(tài)參數(shù)測試可參照GB3439《半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》。
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