半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理 現(xiàn)行
General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
標準號：GB/T 14030-1992
基本信息
標準號：GB/T 14030-1992
發(fā)布時間：1992-01-02
實施時間：1993-08-01
首發(fā)日期：1992-12-17
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構(gòu)：中國標準出版社
標準分類： 微電路綜合
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標準化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：國家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
標準簡介
本標準規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路時基電路電參數(shù)測試方法的基本原理。
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