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半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理
半導體集成電路數字鎖相環測試方法的基本原理 現行
General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
標準號：GB/T 14032-1992
基本信息
標準號：GB/T 14032-1992
發布時間：1992-01-02
實施時間：1993-08-01
首發日期：1992-12-17
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 微電路綜合
ICS分類：集成電路、微電子學
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發布部門：國家技術監督局
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準規定了半導體集成電路數字鎖相環電參數測試方法的基本原理。
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