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標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：
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[GB/T 30704-2014] 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2014-06-09 實施時間：2014-12-01

本標(biāo)準(zhǔn)適用于 X射線光電子能譜儀的操作者分析典型樣品。本標(biāo)準(zhǔn)幫助操作者完成整個分析過程,包括樣品處理..

[GB/T 30705-2014] 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實驗參數(shù)測定導(dǎo)則[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2014-06-09 實施時間：2014-12-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行電子探針分析時的入射電子束、波譜儀和試樣的實驗參數(shù)測定的一般原則,并規(guī)定了束流、束流..

[GB/T 29731-2013] 表面化學(xué)分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-09-18 實施時間：2014-06-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于表面元素和化學(xué)態(tài)分析的俄歇電子能譜的動能標(biāo)校準(zhǔn)方法。并且還規(guī)定了校準(zhǔn)日程安排,用于在..

[GB/T 29732-2013] 表面化學(xué)分析 中等分辨率俄歇電子譜儀 元素分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-09-18 實施時間：2014-06-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了俄歇電子譜儀動能標(biāo)不確定度為3eV 時的校準(zhǔn)方法,用于識別表面常規(guī)元素。另外,還規(guī)定一種..

[GB/T 17519-2013] 化學(xué)品安全技術(shù)說明書編寫指南[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-09-06 實施時間：2014-01-31

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了SDS中16個部分內(nèi)容的編寫細(xì)則、SDS的格式、SDS的書寫要求和計量單位要求。本標(biāo)準(zhǔn)適..

[GB/T 15244-2013] 微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-07-19 實施時間：2014-03-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子探針儀(EPMA)和掃描電子顯微鏡(SEM)的X 射線波譜儀(WDS)和能譜儀(ED..

[GB/T 17361-2013] 微束分析 沉積巖中自生粘土礦物鑒定 掃描電子顯微鏡及能譜儀方法[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-07-19 實施時間：2014-03-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用掃描電子顯微鏡及能譜儀對沉積巖自生粘土礦物的晶體形態(tài)及化學(xué)成分進(jìn)行鑒定的方法。本標(biāo)準(zhǔn)主..

[GB/T 18907-2013] 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-07-19 實施時間：2014-03-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用透射電子顯微鏡(TEM)對薄晶體試樣的微米和亞微米尺寸區(qū)域進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析的方法。..

[GB/T 19501-2013] 微束分析 電子背散射衍射分析方法通則[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-07-19 實施時間：2014-03-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子背散射衍射分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于安裝了電子背散射衍射附件的掃描電鏡和電子探針進(jìn)行物相..

[GB/T 29556-2013] 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-07-19 實施時間：2014-03-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測量方法..

[GB/T 29557-2013] 表面化學(xué)分析 深度剖析 濺射深度測量[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-07-19 實施時間：2014-03-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濺射深度剖析中測量濺射深度的準(zhǔn)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于結(jié)合離子轟擊剝離部分固體樣品的表面化學(xué)分析..

[GB/T 29558-2013] 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-07-19 實施時間：2014-03-01

針對于常規(guī)分析使用的電子槍能量至少為2keV 的俄歇電子能譜儀,本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一種評估其強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性..

[GB/T 29559-2013] 表面化學(xué)分析 輝光放電原子發(fā)射光譜 鋅和/或鋁基合金鍍層的分析[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2013-07-19 實施時間：2014-03-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了輝光放電原子發(fā)射光譜法分析鋅和/或鋁基合金鍍層中鍍層厚度、鍍層質(zhì)量(單位面積)和金屬鍍層..

[GB/T 28892-2012] 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2012-11-05 實施時間：2013-06-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了如何描述X射線光電子能譜儀的特定性能。

[GB/T 28893-2012] 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強(qiáng)度的方法和報告結(jié)果所需的信息[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2012-11-05 實施時間：2013-06-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了俄歇電子能譜和X射線光電子能譜的峰強(qiáng)度測量的分析結(jié)果報告中所要求的必要信息。提供了峰強(qiáng)度..

[GB/T 28894-2012] 表面化學(xué)分析 分析前樣品的處理[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2012-11-05 實施時間：2013-06-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了表面化學(xué)分析樣品的處理和存放容器的要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于表面化學(xué)分析設(shè)備的用戶了解表面化學(xué)分..

[GB/T 28723-2012] 固體有機(jī)化學(xué)品純度的測定 差示掃描量熱法[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2012-09-03 實施時間：2013-02-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了固體有機(jī)化學(xué)品純度測定的差示掃描量熱法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于具有明確熔點(diǎn)的熱穩(wěn)定固體有機(jī)化學(xué)品的..

[GB/T 28724-2012] 固體有機(jī)化學(xué)品熔點(diǎn)的測定 差示掃描量熱法[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2012-09-03 實施時間：2013-02-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了差示掃描量熱法測定熔點(diǎn)的原理、儀器設(shè)備、分析步驟、試驗報告及精度。本標(biāo)準(zhǔn)適用于具有明確熔..

[GB/T 28632-2012] 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測定[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2012-07-31 實施時間：2013-02-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了三種條件下測量俄歇電子能譜儀和X射線光電子能譜儀橫向分辨率的方法。直邊法適用于橫向分辨率..

[GB/T 28633-2012] 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性[現(xiàn)行]

發(fā)布時間：2012-07-31 實施時間：2013-02-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了常規(guī)分析中一種評估X射線光電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性的方法,采用非單色Al/Mg或..
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