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微束分析 分析電子顯微術 透射電鏡選區電子衍射分析方法 現行

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

標準號：GB/T 18907-2013

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基本信息

標準號：GB/T 18907-2013
發布時間：2013-07-19
實施時間：2014-03-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：柳得櫓、婁艷芝、柏明卓
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：物理化學分析方法
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：北京科技大學、北京航空材料研究院、寶鋼集團中央研究院
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

標準簡介

本標準規定了用透射電子顯微鏡(TEM)對薄晶體試樣的微米和亞微米尺寸區域進行選區電子衍射分析的方法。被測試樣可以從各種金屬或非金屬材料的薄切片獲得,也可以采用細微的粉末或萃取復型試樣。應用本方法可分析的最小試樣選區直徑取決于顯微鏡物鏡的球差系數,對于現代TEM,試樣的最小選區直徑一般可達到0.5μm。當被分析試樣區的直徑小于0.5μm 時仍然可以參照本標準的分析方法,但是由于球差的影響,衍射譜上的部分信息有可能來源于由選區光闌限定的區域之外,在這種情況下,如條件允許,最好采用微(納)衍射或者會聚束電子衍射方法。選區電子衍射方法的成功應用取決于對所獲得的衍射譜指數標定正確與否,而不論試樣的哪個晶帶軸平行于入射電子束,因而,這樣的分析往往需要借助試樣的傾轉和旋轉裝置。本標準適用于從晶體試樣上獲取SAED 譜、標定衍射譜的指數以及校準電鏡的衍射常數。

標準摘要

本標準按照GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009給出的規則起草。
本標準代替GB/T18907—2002《透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法》。
本標準與GB/T18907—2002相比主要技術內容變化如下:
———修改了適用范圍的內容(見第1章);
———增加了引用標準(見第2章);
———增加了術語、定義和符號(見第3章);
———增加了插圖來說明相關的原理和方法(見4.2);
———增加了對單晶體的斑點衍射、菊池圖和多晶體衍射譜的說明(見4.2、4.3、4.4);
———增加了布拉格公式的更精確形式以及應用菊池線對間距的相應公式(見4.2、4.3);
———增加了去除試樣表面污染的要求和方法(見6.4);
———增加了對純元素標準物質(如金或鋁)的質量分數要求(見第7章);
———增加了按GB/T27025進行實驗室能力認證的要求(見8.1.1);
———增加了減緩試樣污染的操作要求(見8.1.2);
———增加了關于獲得第二個及更多衍射譜的方法(見8.2.11);
———增加了利用暗場像技術和微區化學分析方法確定物相的要求(見8.2.11);
———修改了衍射常數的測定方法與步驟(見8.3);
———修改了單晶體衍射譜指數標定的方法、步驟(見第9章);
———增加了對選區電子衍射譜180°不確定性的說明與解決方法(見第10章);
———增加了對選區電子衍射分析結果的不確定度評估(見第11章);
———修改了附錄B衍射斑點圖譜的表征方法和編排順序。
本標準使用翻譯法等同采用ISO25498:2010《微束分析 分析電子顯微術 透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法》。
與本標準中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:
———GB/T27025—2008檢測和校準實驗室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)
本標準做了下列編輯性修改:
———ISO25498:2010中3.1~3.4、3.6~3.8只有定義內容而沒有術語,本標準增加了術語及英文對照。
———增加了4.1以適應國家標準要求,將原文的4.1、4.2、4.3分別改為4.2、4.3、4.4。
———將ISO25498:2010的4.1中圖1~圖3調整到4.2相對應的位置。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準起草單位:北京科技大學、北京航空材料研究院、寶鋼集團中央研究院。
本標準主要起草人:柳得櫓、婁艷芝、柏明卓。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為:
———GB/T18907—2002。

標準目錄

前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范圍 1
2 規范性引用文件 1
3 術語、符號和定義 1
4 原理 2
5 儀器設備 6
6 試樣 6
7 標準物質 6
8 試驗方法 7
9 SAED譜的測量和標定 9
10 180°不確定性 11
11 不確定度評估 11
附錄A (資料性附錄) 純金與純鋁的晶面間距表 13
附錄B(資料性附錄) 結構為BCC、FCC和HCP的單晶體斑點衍射譜 14
參考文獻 24

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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