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表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南 現行

Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Guidelines for analysis

標準號：GB/T 30704-2014

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基本信息

標準號：GB/T 30704-2014
發布時間：2014-06-09
實施時間：2014-12-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：趙志娟、劉芬、趙良仲、章小余
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)
起草單位：中國科學院化學研究所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準適用于 X射線光電子能譜儀的操作者分析典型樣品。本標準幫助操作者完成整個分析過程,包括樣品處理,譜儀校準和設定以及寬掃描譜和窄掃描譜的采集,并給出了定量和準備最終報告的建議。

標準摘要

本標準按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準使用翻譯法等同采用ISO10810:2010《表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南》。
與本標準中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下:
———GB/T27025—2008 檢測和校準實驗室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)
———GB/T22461—2008 表面化學分析 詞匯(ISO18115:2001,IDT)
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準起草單位:中國科學院化學研究所。
本標準起草人:趙志娟、劉芬、趙良仲、章小余。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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