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表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定 現行

Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Determination of lateral resolution,analysis area, and sample area viewed by the analyser

標準號：GB/T 29556-2013

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基本信息

標準號：GB/T 29556-2013
發布時間：2013-07-19
實施時間：2014-03-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：王水菊、岑丹霞、姚文清、李展平、劉芬
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：廈門愛勞德光電有限公司、清華大學化學系、中國科學院化學所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

標準簡介

本標準規定了俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測量方法。本標準適用于俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率、分析面積和分析器的檢測。

標準摘要

本標準依據GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009給出的規則起草。
本標準使用翻譯法等同采用ISO/TR19319:2003《表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定》。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準負責起草單位:廈門愛勞德光電有限公司、清華大學化學系、中國科學院化學所。
本標準起草人:王水菊、岑丹霞、姚文清、李展平、劉芬。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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