表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結果所需的信息 現行
Surface Chemical Analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
標準號：GB/T 28893-2012
基本信息
標準號：GB/T 28893-2012
發布時間：2012-11-05
實施時間：2013-06-01
首發日期：2012-11-05
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：王水菊、時海燕、岑丹霞、姚文清、劉芬、沈電洪
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：廈門愛勞德光電有限公司、廈門大學化學化工學院
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會
標準簡介
本標準規定了俄歇電子能譜和X射線光電子能譜的峰強度測量的分析結果報告中所要求的必要信息。提供了峰強度測量方法和所得峰面積的不確定度信息。
標準摘要
|
本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。 本標準使用翻譯法等同采用ISO20903:2006《表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜測定峰強度的方法和報告結果所需的信息》 為了方便使用,本標準做了下列編輯性修改: ———用“本標準”代替“本國際標準”。 本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。 本標準負責起草單位:廈門愛勞德光電有限公司、廈門大學化學化工學院。 本標準起草人:王水菊、時海燕、岑丹霞、姚文清、劉芬、沈電洪。 |
標準目錄
| 前言 Ⅰ 引言 Ⅱ 1 范圍 1 2 規范性引用文件 1 3 術語和定義 1 4 符號和縮略語 1 5 直接譜的峰強度測定方法 1 5.1 概述 1 5.2 非彈性本底的選擇和扣除 2 5.3 峰強度的測量 3 5.3.1 峰高度的測量 3 5.3.2 峰面積的測量 3 5.4 用計算機軟件測量峰強度 4 5.5 重疊峰譜圖的峰強度測量 4 5.6 峰面積測量的不確定度 4 6 俄歇電子微分譜的峰強度測定方法 5 6.1 概要 5 6.2 俄歇電子微分譜強度的測量 5 6.3 俄歇電子微分譜強度測量的不確定度 6 7 測量峰強度方法的報告 6 7.1 一般要求 6 7.2 測定直接譜峰強度的方法 6 7.2.1 單峰的強度測量 6 7.2.2 擬合峰的強度測量 6 7.3 獲得和測定俄歇電子微分譜峰強度的方法 7 7.3.1 獲得微分譜的方法 7 7.3.2 測定峰強度的方法 7 附錄A (資料性附錄) 儀器對測量強度的影響 8 參考文獻 9 |
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