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表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述 現(xiàn)行

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy -Description of selected instrumental performance parameters

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 28892-2012

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 28892-2012
發(fā)布時(shí)間：2012-11-05
實(shí)施時(shí)間：2013-06-01
首發(fā)日期：2012-11-05
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：王水菊、時(shí)海燕、孫海珍、吳正龍、劉芬、沈電洪
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：化學(xué)分析
提出單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位：廈門愛勞德光電有限公司、廈門大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了如何描述X射線光電子能譜儀的特定性能。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用ISO15470:2004《表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述》。
為了方便使用,本標(biāo)準(zhǔn)做了下列編輯性修改:
———用“本標(biāo)準(zhǔn)”代替“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)”。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:廈門愛勞德光電有限公司、廈門大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院。
本標(biāo)準(zhǔn)起草人:王水菊、時(shí)海燕、孫海珍、吳正龍、劉芬、沈電洪。

替代情況

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