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微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法 現(xiàn)行

Microbeam analysis—Quantitative analysis of silicate glass by wavelength dispersive X-ray spectrometry and energy dispersive X-ray spectrometry

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15244-2013

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15244-2013
發(fā)布時(shí)間：2013-07-19
實(shí)施時(shí)間：2014-03-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：李香庭、曾毅、吳偉
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：化學(xué)分析
提出單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38)
起草單位：中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子探針儀(EPMA)和掃描電子顯微鏡(SEM)的X 射線波譜儀(WDS)和能譜儀(EDS)對(duì)硅酸鹽玻璃的定量分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅酸鹽玻璃試樣(包括堿金屬的硅酸鹽玻璃)的波譜法(WDX)和能譜法(EDX)的定量分析。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T15244—2002《玻璃的電子探針定量分析方法》
本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T15244—2002相比主要內(nèi)容變化如下:
———增加了標(biāo)準(zhǔn)樣品的選擇原則(見5.1和5.2);
———?jiǎng)h除5.3中(K-44)和(K-45);
———增加了試樣制備后的要求(見6.1);
———修改了試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品蒸鍍導(dǎo)電膜的具體要求(見6.3);
———修改了儀器定量分析前開機(jī)時(shí)間的要求(見7.1.1);
———增加了“分析區(qū)域較大時(shí),也可以用電子探針的同軸光學(xué)顯微鏡確定分析部位”(見7.14);
———加速電壓選擇中增加了過壓比的要求,修改了不同原子序數(shù)的加速電壓選擇方法(見7.2.1);
———增加了硅漂移能譜儀(SDD)的束流選擇方法(見7.2.2);
———增加了用電子束掃描的方法分析不穩(wěn)定玻璃(見7.2.3);
———修改了X射線線系的原子序數(shù)選擇范圍(見7.2.4);
———增加了SDD能譜儀的測量條件(見7.3.3);
———增加了X射線強(qiáng)度在測量時(shí)間內(nèi)變化量小于1%的要求(見7.3.5);
———增加了輕元素的差值法測量(見8.2);
———增加了無標(biāo)樣EDS定量分析方法(見8.4)。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:李香庭、曾毅、吳偉。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T15244—2002。

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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