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微束分析 電子背散射衍射分析方法通則 現行

Microbeam analysis—General guide for electron backscatter diffraction analysis

標準號：GB/T 19501-2013

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基本信息

標準號：GB/T 19501-2013
發布時間：2013-07-19
實施時間：2014-03-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：姚雷、田青超、鄭芳、顧佳卿、陳家光
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：物理化學分析方法
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會( SAC/TC 38)
起草單位：寶鋼集團中央研究院
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會( SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會( SAC/TC 38)

標準簡介

本標準規定了電子背散射衍射分析方法。本標準適用于安裝了電子背散射衍射附件的掃描電鏡和電子探針進行物相識別、晶體取向、顯微織構以及晶界特性等方面的分析。

標準摘要

本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準代替GB/T19501—2004《電子背散射衍射分析方法通則》。
本標準與GB/T19501—2004相比,主要內容變化如下:
———增加了規范性引用文件(見第2章);
———增加或修改了部分術語,刪除晶粒夾角(見第3章);
———增加了分析步驟內容(見第4章);
———增加分析結果發布補充內容(見第5章);
———增加了附錄A(資料性附錄);
———修改了測量條件(見第4章);
———刪除了原標準中試樣的制備;
———刪除了原標準中分析步驟;
———刪除了原標準中測量誤差。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準起草單位:寶鋼集團中央研究院。
本標準主要起草人:姚雷、田青超、鄭芳、顧佳卿、陳家光。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為:
———GB/T19501—2004。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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