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[GB/T 31379-2015] 平板顯示器（FPD）偏光膜試驗方法[現行]
發布時間：2015-02-04
實施時間：2015-10-01
本標準規定了平板顯示器偏光膜外觀(點缺陷、線缺陷、尺寸、厚度、翹曲度)、光學性能(單體透過率、平行透..
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發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
GB/T11446的本部分規定了電子級水的級別、技術指標要求、試驗方法和檢驗規則。本部分適用于電子和..
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[GB/T 11446.10-2013] 電子級水中細菌總數的濾膜培養測試方法[現行]
發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
GB/T11446的本部分規定了電子級水中細菌總數(活菌)的濾膜培養測試方法。本部分適用于EW-Ⅰ~..
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[GB/T 11446.3-2013] 電子級水測試方法通則[現行]
發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
GB/T11446的本部分規定了電子級水的采樣、貯存與運輸及報告的格式。本部分適用于EW-Ⅰ~EW-..
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[GB/T 11446.4-2013] 電子級水電阻率的測試方法[現行]
發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
本標準規定了電子級水的電阻率的測試方法。 本標準適用于電子級水電阻率測試。
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[GB/T 11446.5-2013] 電子級水中痕量金屬的原子吸收分光光度測試方法[現行]
發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
GB/T11446的本部分規定了無火焰(或火焰)原子吸收分光光度計測定電子級水中痕量金屬銅、鋅、鎳、..
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[GB/T 11446.6-2013] 電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法[現行]
發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
本標準規定了電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法。 本標準適用于電子級水中二氧化硅的測定，其中檢出限..
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[GB/T 11446.7-2013] 電子級水中痕量陰離子的離子色譜測試方法[現行]
發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
GB/T11446的本部分規定了電子級水中痕量氟離子(F- )、氯離子(Cl- )、亞硝酸根離子(N..
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[GB/T 11446.8-2013] 電子級水中總有機碳的測試方法[現行]
發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
GB/T11446的本部分規定了電子級水中總有機碳的測試方法。本部分適用于電子級水中總有機碳的測定。
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[GB/T 11446.9-2013] 電子級水中微粒的儀器測試方法[現行]
發布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
GB/T11446的本部分規定了電子級水中微粒的儀器測定方法。本部分適用于電子級水中微粒的連續式或單..
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[GB/T 14619-2013] 厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片[現行]
發布時間：2013-11-12
實施時間：2014-04-15
本標準規定了厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的要求、測試方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸和貯存。本 標準..
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[GB/T 14620-2013] 薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片[現行]
發布時間：2013-11-12
實施時間：2014-04-15
本標準規定了薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的要求、測試方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸和貯存。本標準適..
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[GB/T 29844-2013] 用于先進集成電路光刻工藝綜合評估的圖形規范[現行]
發布時間：2013-11-12
實施時間：2014-04-15
本標準規定了用于先進集成電路光刻工藝綜合評估的標準測試圖形單元的形狀、一般尺寸,以及推薦的布局和設計..
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[GB/T 29846-2013] 印制板用光成像耐電鍍抗蝕劑[現行]
發布時間：2013-11-12
實施時間：2014-04-15
本標準規定了印制板用光成像耐電鍍抗蝕劑的術語和定義、性能、試驗方法、檢驗規則和包裝。本標準適用于印制..
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[GB/T 29847-2013] 印制板用銅箔試驗方法[現行]
發布時間：2013-11-12
實施時間：2014-04-15
本標準規定了印制板用銅箔外觀、尺寸、物理性能、工藝性能及其他性能的試驗方法。本標準適用于剛性及撓性印..
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[GB/T 29848-2013] 光伏組件封裝用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物（EVA）膠膜[已作廢]
發布時間：2013-11-12
實施時間：2014-04-15
本標準規定了光伏組件封裝用乙烯-醋酸乙烯酯共聚物(EVA)膠膜的術語和定義、要求、試驗方法、檢驗規則..
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[GB/T 29056-2012] 硅外延用三氯氫硅化學分析方法 硼、鋁、磷、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鉬、砷和銻量的測定 電感耦合等離子體質譜法[現行]
發布時間：2012-12-31
實施時間：2013-10-01
本標準規定了用電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)測定硅外延用三氯氫硅(SiHCl3)中硼、鋁、磷..
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[GB/T 28858-2012] 電子元器件用酚醛包封料[現行]
發布時間：2012-11-05
實施時間：2013-02-15
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[GB/T 28859-2012] 電子元器件用環氧粉末包封料[現行]
發布時間：2012-11-05
實施時間：2013-02-15
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發布時間：2011-12-30
實施時間：2012-07-01
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