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電子級水電阻率的測試方法 現(xiàn)行

Test method for resistivity of electronic grade water

標準號：GB/T 11446.4-2013

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基本信息

標準號：GB/T 11446.4-2013
發(fā)布時間：2013-12-31
實施時間：2014-08-15
首發(fā)日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：褚連青、王奕、何秀坤、段曙光、提劉旺、劉筠
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子技術專用材料
ICS分類：  31-030
提出單位：中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心、中國科學院半導體研究所、中國電子技術標準化研究院、中國電子科技集團公司第四十六研究所
歸口單位：中國電子技術標準化研究院
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國電子技術標準化研究院

標準簡介

本標準規(guī)定了電子級水的電阻率的測試方法。 本標準適用于電子級水電阻率測試。

標準摘要

GB/T11446預計結構如下:
———GB/T11446.1 電子級水;
———GB/T11446.2 (待定);
———GB/T11446.3 電子級水測試方法通則;
———GB/T11446.4 電子級水電阻率的測試方法;
———GB/T11446.5 電子級水中痕量金屬的原子吸收分光光度測試方法;
———GB/T11446.6 電子級水中二氧化硅的分光光度測試方法;
———GB/T11446.7 電子級水中痕量陰離子的離子色譜測試方法;
———GB/T11446.8 電子級水中總有機碳的測試方法;
———GB/T11446.9 電子級水中微粒的儀器測試方法;
———GB/T11446.10 電子級水中細菌總數(shù)的濾膜培養(yǎng)測試方法。
本部分為GB/T11446的第4部分。
本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本部分代替GB/T11446.4—1997《電子級水電阻率的測試方法》。
本部分與GB/T11446.4—1997相比,主要有下列變化:
———“3術語和定義”中增加了“電導池常數(shù)”的定義(見第3章);
———增加了“5干擾因素”(見5章);
———刪除了“9 注意事項”(1997年版的第9章)。
本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出。
本部分由中國電子技術標準化研究院歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部專用材料質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心、中國科學院半導體研究所、中國電子技術標準化研究院、中國電子科技集團公司第四十六研究所。
本部分主要起草人:褚連青、王奕、何秀坤、段曙光、提劉旺、劉筠。
本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T11446.4—1989、GB/T11446.4—1997。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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