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標準編號 標準名稱 發布部門 發布日期 狀態
SJ 2307-1983 防雷型氧化鋅壓敏電阻器總技術條件 1983-10-01 已作廢
SJ 2309-1983 消噪型氧化鋅壓敏電阻器總技術條件 1983-10-01 已廢止
SJ 2309.1-1983 ＭＹＺ１型消噪用氧化鋅壓敏電阻器 1983-10-01 已廢止
SJ 2214.1-1982 半導體光敏管測試方法總則 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.10-1982 半導體光敏二、三極管光電流的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.2-1982 半導體光敏二極管正向壓降的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.3-1982 半導體光敏二極管暗電流的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.4-1982 半導體光敏二極管反向擊穿電壓的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.5-1982 半導體光敏二極管結電容的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.6-1982 半導體光敏三極管集電極－發射極反向擊穿電壓的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.7-1982 半導體光敏三極管飽和壓降的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.8-1982 半導體光敏三極管暗電流的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2214.9-1982 半導體光敏二、三極管脈沖上升、下降時間的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2215.1-1982 半導體光耦合器測試方法總則 1983-07-01 已作廢
SJ 2215.10-1982 半導體光耦合器直流電流傳輸比的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2215.11-1982 半導體光耦合器脈沖上升、下降、延遲、貯存時間的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2215.12-1982 半導體光耦合器入出間隔離電容的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2215.13-1982 半導體光耦合器入出間絕緣電阻的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2215.14-1982 半導體光耦合器入出間絕緣電壓的測試方法 1983-07-01 已作廢
SJ 2215.2-1982 半導體光耦合器（二極管）正向壓降的測試方法 1983-07-01 已作廢
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