国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区

歡迎來到寰標網(wǎng)！ 客服QQ：772084082 加入會員

半導體光耦合器入出間隔離電容的測試方法 已作廢

Method of measurement for input-to-output capacitance of semiconductor photocouplers

標準號：SJ 2215.12-1982

獲取原文 如何獲取原文？問客服 獲取原文，即可享受本標準狀態(tài)變更提醒服務！
基本信息

標準號：SJ 2215.12-1982
發(fā)布時間：1982-11-30
實施時間：1983-07-01
首發(fā)日期：
起草人：
作廢日期：2015-10-01
標準分類： 技術管理

標準簡介

替代情況

會員注冊/登錄后查看詳情

引用標準

會員注冊/登錄后查看詳情

本標準相關公告

會員注冊/登錄后查看詳情

采標情況

會員注冊/登錄后查看詳情

推薦檢測機構
申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

推薦認證機構
申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

推薦培訓機構
申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~