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半導體光敏二極管反向擊穿電壓的測試方法 已作廢

Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes

標準號：SJ 2214.4-1982

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基本信息

標準號：SJ 2214.4-1982
發布時間：1982-11-30
實施時間：1983-07-01
首發日期：
起草人：
作廢日期：2015-10-01
標準分類： 技術管理

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