国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区

歡迎來(lái)到寰標(biāo)網(wǎng)！ 客服QQ：772084082 加入會(huì)員

半導(dǎo)體光敏管測(cè)試方法總則 已作廢

General procedures of measurement for semiconductor photodiodes and phototransistors

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ 2214.1-1982

獲取原文 如何獲取原文？問(wèn)客服 獲取原文，即可享受本標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)變更提醒服務(wù)！
基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ 2214.1-1982
發(fā)布時(shí)間：1982-11-30
實(shí)施時(shí)間：1983-07-01
首發(fā)日期：
起草人：
作廢日期：2015-10-01
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)： 技術(shù)管理

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

替代情況

會(huì)員注冊(cè)/登錄后查看詳情

引用標(biāo)準(zhǔn)

會(huì)員注冊(cè)/登錄后查看詳情

本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)公告

會(huì)員注冊(cè)/登錄后查看詳情

采標(biāo)情況

會(huì)員注冊(cè)/登錄后查看詳情

推薦檢測(cè)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐

暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu)，邀您申請(qǐng)入駐~

推薦認(rèn)證機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐

暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu)，邀您申請(qǐng)入駐~

推薦培訓(xùn)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐

暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu)，邀您申請(qǐng)入駐~