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半導(dǎo)體光敏二極管結(jié)電容的測試方法 已作廢

Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ 2214.5-1982

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ 2214.5-1982
發(fā)布時(shí)間：1982-11-30
實(shí)施時(shí)間：1983-07-01
首發(fā)日期：
起草人：
作廢日期：2015-10-01
標(biāo)準(zhǔn)分類： 技術(shù)管理

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