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[SJ 2307-1983] 防雷型氧化鋅壓敏電阻器總技術(shù)條件[已作廢]

發(fā)布時間：1983-02-24 實施時間：1983-10-01

[SJ 2309-1983] 消噪型氧化鋅壓敏電阻器總技術(shù)條件[已廢止]

發(fā)布時間：1983-02-24 實施時間：1983-10-01

[SJ 2309.1-1983] ＭＹＺ１型消噪用氧化鋅壓敏電阻器[已廢止]

發(fā)布時間：1983-02-24 實施時間：1983-10-01

[SJ 2214.1-1982] 半導(dǎo)體光敏管測試方法總則[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.10-1982] 半導(dǎo)體光敏二、三極管光電流的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.2-1982] 半導(dǎo)體光敏二極管正向壓降的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.3-1982] 半導(dǎo)體光敏二極管暗電流的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.4-1982] 半導(dǎo)體光敏二極管反向擊穿電壓的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.5-1982] 半導(dǎo)體光敏二極管結(jié)電容的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.6-1982] 半導(dǎo)體光敏三極管集電極－發(fā)射極反向擊穿電壓的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.7-1982] 半導(dǎo)體光敏三極管飽和壓降的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.8-1982] 半導(dǎo)體光敏三極管暗電流的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2214.9-1982] 半導(dǎo)體光敏二、三極管脈沖上升、下降時間的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2215.1-1982] 半導(dǎo)體光耦合器測試方法總則[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2215.10-1982] 半導(dǎo)體光耦合器直流電流傳輸比的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2215.11-1982] 半導(dǎo)體光耦合器脈沖上升、下降、延遲、貯存時間的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2215.12-1982] 半導(dǎo)體光耦合器入出間隔離電容的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2215.13-1982] 半導(dǎo)體光耦合器入出間絕緣電阻的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2215.14-1982] 半導(dǎo)體光耦合器入出間絕緣電壓的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

[SJ 2215.2-1982] 半導(dǎo)體光耦合器（二極管）正向壓降的測試方法[已作廢]

發(fā)布時間：1982-11-30 實施時間：1983-07-01

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