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EN 60749-27:2006現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 27: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Machine Model (Mm) (Iec 60749-27:2006/A1:2012)

出版：European Committee for Standards - Electrical

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： EN 60749-27:2006
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：European Committee for Standards - Electrical
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：19
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2006 AMD 1 2012 [01/11/2012]2006 [01/08/2006]

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

I.S. EN 60749-27:2006 - Identical

IEC 60749-27 Ed. 2.0 - Identical

SS EN 60749-27:2006 - Identical

DS EN 60749-27:2006 - Identical

OVE/ONORM EN 60749-27:2013 - Identical

DIN EN 60749-27 (2013-04) - Identical

NEN EN IEC 60749-27:2007 - Identical

PN EN 60749-27:2008 - Identical

PN EN 60749-27:2006 - Identical

SS EN 60749-27 Ed. 1 (2006) - Identical

DIN EN 60749-27 (2007-01) - Identical

NBN EN 60749-27:2007 - Identical

NF EN 60749-27:2006 - Identical

OVE/ONORM EN 60749-27:2007 - Identical

CEI EN 60749-27 Ed. 1 (2007) - Identical

BS EN 60749-27:2006+A1:2012 - Identical