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I.S. EN 60749-27:2006現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 27: Electrostatic Discharge (esd) Sensitivity Testing - Machine Model (mm) (iec 60749-27:2006 (eqv))

出版：National Standards Authority of Ireland

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： I.S. EN 60749-27:2006
發(fā)布時間：2006/9/12 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：National Standards Authority of Ireland
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：21
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Describes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD).