OVE/ONORM EN 60749-27:2013現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 27: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Machine Model (Mm) (Iec 60749-27:2006 + A1:2012)
出版：Osterreichisches Normungsinstitut
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基本信息
標準編號： OVE/ONORM EN 60749-27:2013
發布時間：2013/7/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut
標準頁數：15
標準簡介
2013 [01/07/2013]2007 [01/03/2007]
本標準替代的舊標準
等同采用的國際標準
EN 60749-27:2006 - Identical
