DS EN 60749-27:2006現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 27: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Machine Model (Mm)
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： DS EN 60749-27:2006
發布時間：2013/1/25 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：32
標準簡介
Describes a procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD).
等同采用的國際標準
EN 60749-27:2006 - Identical
