PN EN 60749-27:2008現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 27: Electrostatic Discharge (esd) Sensitivity Testing - Machine Model (mm)

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： PN EN 60749-27:2008

發(fā)布時間：2008/2/5 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Polish Committee for Standardization

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：15

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2008 AMD 1 2013 [27/06/2013]2008 [05/02/2008]2006 [28/11/2006]

標(biāo)準(zhǔn)備注

AMD 1 2013 is only available in English. (09/2013)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

PN EN 60749-27:2006

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-27 Ed. 2.0 - Identical

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