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DIN EN 60749-27 (2007-01)被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 27: Electrostatic Discharge (esd) Sensitivity Testing - Machine Model (mm)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： DIN EN 60749-27 (2007-01)
發(fā)布時(shí)間：2007/1/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard
出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Describes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD).

標(biāo)準(zhǔn)備注

DRAFT AMD 1 issued in October 2011. (10/2011)

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 60749-27 (2013-04)

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-27:2006 - Identical

SS EN 60749-27 Ed. 1 (2006) - Identical

BS EN 60749-27:2006+A1:2012 - Identical

NBN EN 60749-27:2007 - Identical

NF EN 60749-27:2006 - Identical

I.S. EN 60749-27:2006 - Identical

IEC 60749-27 Ed. 2.0 - Identical