NEN EN IEC 60749:1999被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 60749:1999

發(fā)布時(shí)間：1999/2/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：179

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

99 AMD 2 2002 [01/02/2002]99 AMD 1 2001 [01/01/2001]1999 [01/02/1999]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes NEN 10749. (09/2002)

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60749-10:2002

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749:1999 - Identical

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