NEN EN IEC 60749-6:2002被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 6: Storage At High Temperature

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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專家解讀視頻

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 60749-6:2002

發(fā)布時(shí)間：2002/9/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：7

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Analysis the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Partially Supersedes NEN EN IEC 60749. (02/2003)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60749:1999

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60749-6:2017

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-6 Ed. 1.0 - Identical

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