NEN EN IEC 60749-1:2003現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 1: General

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 60749-1:2003

發(fā)布時(shí)間：2003/8/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：15

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Partially supersedes NEN EN IEC 60749. (08/2003)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60749:1999

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-1 Ed. 1.0 - Identical

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