NEN EN IEC 60749-3:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical En Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Inspection
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-3:2002
發布時間：2002/9/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：7
標準簡介
Verifies that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document.
標準備注
Partially supersedes NEN EN IEC 60749. (12/2002)
本標準替代的舊標準
替代本標準的新標準
