NEN EN IEC 60749-7:2002被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 7: Internal Moisture Content Measurement And The Analysis Of Other Residual Gases

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 60749-7:2002

發(fā)布時(shí)間：2002/9/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：15

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Defines to test and measure the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed service.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Partially Supersedes NEN EN IEC 60749. (12/2002)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60749:1999

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60749-7:2011

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-7 Ed. 1.0 - Identical

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