NEN EN IEC 60749-2:2002現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-2:2002
發布時間：2002/9/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：11
標準簡介
Defines the testing of low air pressure on semiconductor devices.
標準備注
Partially supersedes NEN EN IEC 60749. (12/2002)
本標準替代的舊標準
等同采用的國際標準
IEC 60749-2 Ed. 1.0 - Identical
