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[GB/T 26597-2011] 光學(xué)纖維傳像元件試驗(yàn)方法[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-06-16 實(shí)施時(shí)間：2011-11-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)纖維傳像元件的術(shù)語和定義、試驗(yàn)方法，適用于像增強(qiáng)器、變像管、像增強(qiáng)型CCD等光電器件..

[GB/T 26598-2011] 光學(xué)儀器用透明導(dǎo)電薄膜規(guī)范[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-06-16 實(shí)施時(shí)間：2011-11-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)儀器用透明導(dǎo)電薄膜的分類、要求、試驗(yàn)方法及檢驗(yàn)規(guī)則，適用于在光學(xué)玻璃上鍍制全介質(zhì)透明..

[GB/T 12085.18-2011] 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-06-01 實(shí)施時(shí)間：2011-11-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，適用于光學(xué)儀器、裝有光..

[GB/T 12085.1-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第1部分：術(shù)語、試驗(yàn)范圍[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)方法的術(shù)語和定義、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的..

[GB/T 12085.10-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第10部分：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用..

[GB/T 12085.11-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第11部分：長霉[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了長霉試驗(yàn)用的菌種，試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有..

[GB/T 12085.12-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第12部分：污染[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了污染試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)..

[GB/T 12085.13-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了污染試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)..

[GB/T 12085.14-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第14部分：露、霜、冰[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了露、霜、冰試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光..

[GB/T 12085.15-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第15部分：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用..

[GB/T 12085.16-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適..

[GB/T 12085.2-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第2部分：低溫、高溫、濕熱[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零..

[GB/T 12085.3-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第3部分：機(jī)械作用力[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了機(jī)械作用力試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的..

[GB/T 12085.4-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第4部分：鹽霧[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部..

[GB/T 12085.5-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了低溫和低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于在高山地區(qū)..

[GB/T 12085.6-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第6部分：砂塵[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了砂塵試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部..

[GB/T 12085.7-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第7部分：滴水、淋雨[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了滴水、淋雨試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光..

[GB/T 12085.8-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第8部分：高壓、低壓、浸沒[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了高壓、低壓、浸沒試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、..

[GB/T 12085.9-2010] 光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第9部分：太陽輻射[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

本部分規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于露天操作、儲(chǔ)存或在..

[GB/T 26328-2010] 生物化學(xué)分析儀器用干涉濾光片[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14 實(shí)施時(shí)間：2011-06-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了生物化學(xué)分析儀器(如生化分析儀、酶標(biāo)儀)用干涉濾光片及光學(xué)膜層的要求﹑試驗(yàn)方法﹑檢驗(yàn)規(guī)則..
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